无损检测膜厚仪X-RAY厚度分析仪

X光机在电子制造领域的应用

X荧光镀层测厚仪

型号：Thick800A 

特点：

1、快速：一般测量一个样品只需要1～3分钟，样 品可不处理或进行简单处理。

2、无损：物理测量，不改变样品性质

3、准确：对样品可以jing确分析

4、直观：直观的分析谱图，元素分布一幕了然， 定性分析速度快

5、环保：检测过程中不产生任何废气、废水

优势：

1.***度

定义为同一样品多次测定的平均值m和各次测定值mi之差。换句话说，***度就是重现性（Reproducibility或Repeatability）。X荧光分析 的精度是和测量的时间有关的，测量的时间越长，则精度越高。 

2.重复性

定义为仪器测同一款样品的连续测试十一次或二十一次的相对标准偏差。

3.准确度

定义为各次测定值mi对于真值（t）的偏差。因而，若***度差，准确度也一定差。反之，准确度很差，***度确有时很高。这是因为有时可能有系统误差的存在。要想可靠性（Reliability）好，***度和准确度都要求高。

4. 误差

X荧光分析的误差往往是很难计算的，所以，通常情况下，把统计涨落引起的误差作为测量的误差。

5.检出限（Limit of detection）

          当获得背景强度标准偏差三倍以上的峰值强度时的元素含量，就称为检出限（或叫zui低检出限）。这时候，测到的含量的置信度（***的程度）是99.87％.测定检出***，一般要用含量比较低的样品来测量。检出限因所用试样（基体）的不同而不同。

6.计数统计误差

       在放射性物质的测量中，假设仪器稳定性、机械在现性可确保，由仪器机械产生的误差可以忽略不计，但计数统计误差还是不能消除。X射线强度是把入射到计数器上的光子变成脉冲后计数而得到的。因而计数值在本质上具有统计误差。 被测X射线的计数值（N）的分布属于随机事件，其标准偏差由 N求出。 N就叫统计误差。时间越长，则相对偏差就越小，即精度就越高。

技术指标

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg