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PX-7/PX-7DL系列超声波测厚仪

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PX-7/PX-7DL系列超声波测厚仪

功能:
可测量钢、铸铁、有色金属、塑料和玻璃等各种材料厚度或进行声速测量。独特的铝金属外壳和密封覆膜键盘是为*恶劣的工作环境和高精度的测量要求而设计。

特点:
PX-7:采用单晶延迟探头,显示精度达到了0.001mm
*
回波-回波模式,无需去除油漆涂层而测量厚度;
*
界面-回波模式,测量厚工件和塑料时自动切换;
PX-7DL:
除了PX-7的功能外,可存储1000个测量数据。仪器还附带有通讯电缆和软件。


技术参数:

测量范围

0.15-25.4mm(可在公制、英制间切换)

分 辨 率

20.00mm以下时为0.001mm      20.00mm以上时为0.01mm

声速范围

1250-10000m/s

探头频率

单晶延迟探头:10MHz-22MHz

显示方式

4.5位数字LCD显示,自动背光

   

单点校准

扫描方式

回波-回波(穿过漆层)、界面-回波和自动转换模式单点测量每秒4个读数,或在扫描模式每秒8个点,可捕捉*薄点。

技术参数

快锁式LEMO型接头,1.2m电缆

电量不足时显示器自动闪烁报警,直至自动关机

*外壳:挤压铝制外壳,

*键盘:9键密封覆膜,防水、防油

*电源:21.5V碱性电池,工作时间150小时; 1.2V AA镍铬电池,工作时间100小时

*操作温度:-30-50

*尺寸:63.5W*114.3H*31.5Dmm

*重量:285g



标准配置:
主机、探头、耦合剂、电池、随机文件、仪器箱




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